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2.5次元測(cè)量?jī)x在半導(dǎo)體晶圓行業(yè)上的應(yīng)用
發(fā)布者:東莞市嘉騰儀器儀表有限公司 日期:2020年09月25日

晶圓是指制作硅半導(dǎo)體積體電路所用的硅晶片,其原始材料是硅。高純度的多晶硅溶解后摻入硅晶體晶種,然后慢慢拉出,形成圓柱形的單晶硅。硅晶棒在經(jīng)過研磨,拋光,切片后,形成硅晶圓片,也就是晶圓。目前國(guó)內(nèi)晶圓生產(chǎn)線以 8英寸和 12 英寸為主。


晶圓的主要加工方式為片加工和批加工,即同時(shí)加工1 片或多片晶圓。隨著半導(dǎo)體特征尺寸越來(lái)越小,加工及測(cè)量設(shè)備越來(lái)越先進(jìn),使得晶圓加工出現(xiàn)了新的數(shù)據(jù)特點(diǎn)。同時(shí),特征尺寸的減小,使得晶圓加工時(shí),空氣中的顆粒數(shù)對(duì)晶圓加工后質(zhì)量及可靠性的影響增大,而隨著潔凈的提高,顆粒數(shù)也出現(xiàn)了新的數(shù)據(jù)特點(diǎn)。


晶圓的測(cè)量?jī)x器有很多種。對(duì)集成電路來(lái)說(shuō):一般來(lái)說(shuō)4寸晶圓的厚度0.520mm,6寸晶圓的厚度為0.670mm左右。晶圓必須要減薄,否則對(duì)劃片刀的損耗很大,而且要?jiǎng)潈傻?。我們做DIP封裝,4寸晶圓要減薄到0.300mm;6寸晶圓要減薄到0.320mm左右,誤差0.020mm。


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